Дмитрий Григорьевич Крутогин, Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
- Автор: Дмитрий Григорьевич Крутогин
- Жанр: Техническая литература
- Страницы: 43
Краткое описание книги
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Скачать книгу Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов:
Похожие книги
Комментарии (0)